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該系列高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試材料對(duì)極高溫度或極低溫度的耐受性。這種情況類(lèi)似于不連續(xù)暴露于高溫或低溫的情況。冷熱沖擊試驗(yàn)可以使各種項(xiàng)目在短時(shí)間內(nèi)完成試驗(yàn)。熱震中引起的變化或物理傷害是由熱膨脹和收縮的變化或其他物理值的變化引起的。只有采用PID系統(tǒng)，各類(lèi)產(chǎn)品才能獲得全信任。熱沖擊的影響包括由裂紋或破裂層和成品位移引起的電化學(xué)變化。PID系統(tǒng)的全自動(dòng)控制將使您的操作變得容易。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的檢測(cè)設(shè)備。它用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。它能在瞬間承受極高溫度和極低溫度的連續(xù)環(huán)境，并能在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到樣品熱膨脹和收縮引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。分為兩廂型和三廂型。區(qū)別在于測(cè)試方法和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。產(chǎn)品符合以下標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107。

試驗(yàn)方法:GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)，符合MIL、IEC和JIS規(guī)范。

用途:高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子電氣元件、自動(dòng)化零部件、通信元器件、汽車(chē)零部件、金屬、化工材料、塑料等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航空航天工業(yè)、軍工、BGA、PCB基板、電子芯片ic、半導(dǎo)體陶瓷、高分子材料等，測(cè)試材料對(duì)高低溫的反復(fù)耐受能力，以及產(chǎn)品在熱脹冷縮過(guò)程中的化學(xué)變化或物理?yè)p傷，可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量。



冷熱沖擊箱符合標(biāo)準(zhǔn):
1.GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗(yàn)a:低溫試驗(yàn)方法。
2.試驗(yàn)B-2423.2-89(IEC68-2-2):高溫試驗(yàn)方法。
3.GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。
4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
5.GJB150.4(MIL-STD-810D)的低溫試驗(yàn)方法。
6.國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB150.3-86。
7.國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB150.4-86。
8.國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB150.5-86。

設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子電氣元件、自動(dòng)化元件、通訊元件、汽車(chē)零部件、金屬、化工材料、塑料等。
工業(yè)、國(guó)防工業(yè)、航空航天工業(yè)、軍工、BGA、PCB基板、電子芯片ic、半導(dǎo)體陶瓷和高分子材料。
物理變化，測(cè)試其材料對(duì)高溫和低溫的反復(fù)耐受性，以及因熱脹冷縮而產(chǎn)生的產(chǎn)品的化學(xué)變化或物理?yè)p傷，
它可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量，從精密集成電路到重型機(jī)械部件，可以作為產(chǎn)品改進(jìn)的基礎(chǔ)或參考。